粉の X 線回折

相同定のための多結晶試料の分析に使用されます。

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合成法元素分析エナンチオマー表象収率蒸留する質量分析法反応性配基求核試薬求電性熱分解空間位障害カービンクロマトグラフィー再結晶電子密度吸着量根元.根赤外スペクトル(IR) 光解濾過するガスクロマトグラフィー(GC) 前触れ蛍光.蛍光水素結合溶離液薄層クロマトグラフィー(TLC) 高速液体クロマトグラフ核磁気共鳴(MRI) 分留精留真空蒸留正方形の平面中級.中級共振する分解能 X線結晶学群を離れる互変異性化誘電率錯化作用同分異性体複分解空間効果酸化付加還元消去法反応機序電子効果結晶包装触媒作用

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